微机电系统(MEMS)故障分析技术与挑战
1. 引言
微机电系统(MEMS)作为一种新兴技术,在医疗、工业、消费、军事、汽车和仪表产品等众多领域展现出巨大的应用潜力。然而,随着MEMS器件的批量生产,故障分析(FA)对于这项新技术的成功设计、制造、性能分析和可靠性保证变得至关重要。本文将详细探讨MEMS器件的故障分析技术、故障模式以及相关实例。
2. 表面微加工加速度计概述
- 工作原理 :加速度计的主要功能是将加速度转换为其他形式的信号,如电压。传统的机械传感器通过弹簧约束滚轮或球,加速度使它们偏移弹簧,从而触发开关闭合。而体微加工加速度计通常通过蚀刻硅直到留下薄的柔性结构,该结构在加速度作用下发生偏转,通过压阻元件测量偏转量来确定加速度。
- 表面微加工优势 :表面微加工具有明显的优势,其基本制造步骤(沉积、图案化、蚀刻)为许多工厂所熟悉。由于它是基于光刻技术,特征控制更精确,特征尺寸可以更小。此外,在表面微加工过程中更容易实现电路集成。
3. 摩托罗拉MMAS40G加速度计结构
- g - cell结构 :MMAS40G加速度计的传感元件g - cell是一种表面微加工的Z轴电容式传感器,由三层多晶硅组成。Poly 1层形成电容器的底部极板(Cbottom),是固定极板;Poly 2层是可移动极板(Cmiddle);Poly 3层是顶部极板(Ctop)。
- 封装与控制 :芯片切割后放置在带有CMOS控制芯片的引线框架上。控制芯片将电容转换为电压,并进行增益和滤波处理。自测试电路通过向自测试极板(Cself - test)施加电压,产生中间极板的静电偏转。控制芯片还包含EPROM电路,可在封装后对器件进行微调。
4. 测试方法
| 测试类型 | 具体方法 | 作用 |
|---|---|---|
| “翻转”测试 | 利用地球重力,分别测量传感器顶部朝上和朝下时的输出,提供2g的差异 | 简单测量加速度计性能 |
| 正弦加速度测试 | 施加正弦加速度力,测量设备的峰 - 峰电压输出,并与参考加速度计的峰 - 峰加速度相除,得到设备的灵敏度 | 更全面测试加速度计性能 |
| 频谱分析 | 分析输出信号的频谱 | 检测输出的非线性 |
| 频率扫描 | 对g - cell和相关电路进行频率扫描 | 获取带宽信息 |
| 脉冲加速度测试 | 提供高g值的脉冲式加速度,揭示机械冲击响应 | 检测间歇性故障 |
5. 测试注意事项
- 电容测量 :g - cell中的电容小于1皮法,需要高精度的电容计和特殊的探测设置,以最小化寄生电容。同时,直流偏置电压有助于模拟加速度,检测颗粒和电荷等问题。
- 泄漏电流 :设计对泄漏电流敏感,需要使用高度隔离的有源探头。在电路微探测时,低泄漏、低电容的探头(如Picoprobe 18B)通常足够。
6. 检查方法
- 红外和激光扫描显微镜 :许多微机械器件采用硅帽进行气密密封,这使得可以通过红外光源对器件进行正面和背面检查。由于现代微加工技术的特征尺寸较小,需要使用共聚焦激光扫描显微镜来获得所需的分辨率。共聚焦显微镜还可以提供Z轴信息,有助于检测异常的垂直位移。
graph LR
A[器件] --> B[硅帽密封]
B --> C[红外光源检查]
C --> D[共聚焦激光扫描显微镜]
D --> E[获取高分辨率图像和Z轴信息]
- 其他检查技术 :还可以使用光学检查、扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)技术、原子力显微镜(AFM)、光发射(LE)显微镜、声学显微镜和声学发射分析等技术进行检查。
7. 去处理方法
- 解封装 :对于玻璃熔块密封的芯片,通常可靠的解封装方法是将芯片加热到玻璃熔点并移除盖子,但需要注意避免高温对器件造成显著影响。
- 移除极板 :在MMAS40G中,由于玻璃熔块顶部高于传感器,可以使用带有双面胶带的玻璃载玻片直接放在传感器芯片上,通过镊子或操纵器下压载玻片,当胶带与极板接触后,迅速垂直提起载玻片,成功移除单个极板。
通过以上对表面微加工加速度计的详细介绍,我们可以看到在MEMS器件的故障分析中,需要综合考虑多种因素,采用合适的技术和方法来解决问题。在下半部分,我们将继续探讨微发动机的故障分析技术和故障模式。
微机电系统(MEMS)故障分析技术与挑战
8. 微发动机结构与工作原理
- 结构组成 :微发动机是一种MEMS器件,由两个正交的静电梳齿驱动器驱动,每个轴具有双向驱动能力。梳齿驱动器的梭子连接到连杆,连杆再通过销钉关节连接到齿轮。齿轮直径为80μm,在带凸缘的轮毂上转动。齿轮底部有三个凹坑,可减少倾斜和粘连。
- 工作原理 :向适当的固定梳齿施加60 - 90V的信号,吸引接地的可动梳齿,使梭子运动,从而导致齿轮旋转。弹簧元件用于平衡驱动力和使齿轮回到平衡位置。
9. 故障分析技术
| 技术名称 | 作用 | 具体应用 |
|---|---|---|
| 光学显微镜 | 提供初始故障验证和大量信息 | 观察碎片、纹理、断裂元件等 |
| 扫描激光显微镜(SLM) | 获得共聚焦图像,识别异常垂直位移 | 检测平面外粘连的梳齿 |
| 扫描电子显微镜(SEM) | 高倍成像缺陷,确定电气连续性 | 识别与基板接触的弹簧元件、磨损痕迹等 |
| 电压对比(被动和主动) | 识别电位不同的结构 | 检测静电夹紧、电气短路等问题 |
| 聚焦离子束(FIB) | 成像结构、截面切割和分离元件 | 区分卡住和自由的销钉关节,检查轴承表面 |
| 原子力显微镜(AFM) | 提供详细的地形图像和表面痕迹 | 研究磨损痕迹的表面粗糙度 |
| 红外显微镜 | 构建热图像,检测热点 | 定位微发动机中的热点 |
| 光发射分析 | 检测梳齿处的电弧 | 未在微发动机中检测到发射光 |
| 声学显微镜 | 尝试解决卡住的齿轮和连杆与基板的接触问题 | 未成功将声学信号转化为粘连证据 |
| 声学发射分析 | 监听微发动机运行时的声学事件 | 未检测到可分辨的信号 |
10. 故障模式
- 颗粒污染 :外部或内部产生的颗粒可能会影响微发动机的性能,特别是在需要小间隙和严格公差的情况下。
- 融合组件 :过度驱动导致结构和电气部件的意外接触,可能会产生电弧和类似焊接的连接。
- 粘连 :即使是未通电的元件也可能发生粘连,理论上归因于静电吸引和水分吸附。
- 间歇性故障 :微发动机的性能下降可能表现为间歇性响应,可能是由于瞬间或可逆的粘连引起的。
- 静电夹紧 :齿轮和连杆的静电充电可能导致静电夹紧,影响微发动机的正常运行。
11. 静电夹紧的证据
- FIB照射实验 :在FIB照射下,卡住的齿轮在启用电荷中和时突然恢复到静止位置。
- 电压对比观察 :在SEM和FIB中,观察到齿轮和连杆的充电/放电行为与微发动机循环中的特定位置一致。
- FIB照明操作 :在FIB照明下,关闭电荷中和时,柔性关节发动机运行几圈后会被夹紧,重新启用电荷中和或增加操作电压可恢复运行。
graph LR
A[微发动机故障] --> B[颗粒污染]
A --> C[融合组件]
A --> D[粘连]
A --> E[间歇性故障]
A --> F[静电夹紧]
B --> G[影响小间隙和公差]
C --> H[产生电弧和连接]
D --> I[归因于静电和水分]
E --> J[瞬间或可逆粘连]
F --> K[导致齿轮夹紧]
12. 总结与展望
通过对表面微加工加速度计和微发动机的故障分析,我们发现现有的微电子故障分析技术在MEMS领域具有一定的应用价值。然而,MEMS器件的独特性质也带来了一些挑战,如难以观察到高倍放大下的磨损、部分故障模式难以检测等。未来,需要开发新的技术和工具,以完善MEMS的故障分析,提高MEMS器件的性能和可靠性。
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