本质上，所有市面上的充电器适配器都是电子垃圾的制造者

在我们手机和笔记本电脑充电器看似普通的塑料外壳下，隐藏着一个真相：这些随处可见的设备不仅仅是电源适配器，而是经过认证、符合系统规范的电子垃圾制造者。这并非比喻，而是其设计所依据的国际安全标准中固有缺陷的直接后果。

问题的根源在于IEC 62368-1标准中的一条特定条款——5.5.2.2条款——该条款仅关注静电安全：确保在拔掉电源后，关键滤波元件（X电容）上的电压在5秒内降至安全水平，以防止触电。为了满足这一要求，同时追求超低待机功耗（这是市场驱动的“绿色”指标），制造商倾向于使用极高阻值的放电电阻，甚至使用“智能”集成电路，在正常工作期间完全阻断放电路径。

灾难由此而生。在动态交流电源下，这种设计选择会产生“超级电容器”效应。一个半周期内残留的电荷会与下一个半周期的电压剧烈叠加，从而产生周期性的高压尖峰和巨大的浪涌电流。这些尖峰并非偶然现象，而是这种缺陷设计的固有特性，如同一个持续不断的“内部老化加速器”。

其后果体现在两个方面：

内部加速老化：这些尖峰会持续冲击并损坏充电器自身的元件（电解电容器、整流器），并沿着电缆传播，最终冲击手机和笔记本电脑中精密的电池管理芯片。这会系统性地缩短它们的使用寿命。

系统不稳定性：该电路会放大电网的微小扰动，从而造成高压运行环境，进一步降低可靠性。

业界所谓的“解决方案”——例如 CAP200DG 等专用放电 IC——往往会使问题更加严重。虽然它们完全符合静态安全条款，但由于提供了零放电路径，它们在运行过程中会造成极其危险的状态，导致更高的电压累积和浪涌风险。

相比之下，存在一个简单且行之有效的解决方案：“黄金RC不等式”（RC ≤ 1/(2F)），它要求放电电阻足够低，以便在半个周期内耗散电荷。这消除了尖峰电压，确保了动态稳定性，并显著延长了产品寿命。其代价是功耗略有增加——但为了耐用性，这是值得的代价，而当前的标准和市场偏好却对此视而不见。

因此，我们的设备并非自然老化而报废。它们正被自身的电源过早地加速老化，这些电源的设计标准优先考虑狭隘的安全性定义和低待机功耗，而忽视了长期可靠性。每一个按照这种缺陷范式制造的充电器，其最终输出的不仅仅是直流电，而是源源不断的电子垃圾。在标准修订以解决这种动态故障模式之前，我们只是将我们的设备插入符合规范的、使用墙壁电源的电子垃圾工厂。