php __autoad __toString __call 详解

本文详细介绍了PHP中的魔术方法,包括构造函数__construct、析构函数__destruct等共计12种方法的功能与应用场景,帮助读者更好地理解和运用这些特殊的方法。

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__construct() :实例化对象时被调用;
__destuct():当删除一个对象或者对象操作终止是被执行;
__call():调用对象不存在方法时被调用;
__get():调用对象不存在的属性时被调用;
__set():设置对象不存在的属性时被调用;_
_toString():打印一个对象时被调用,比如echo $obj,print($obj);
__clone():克隆对象时被调用,比如$t = new Test();$tt = clone $t;
__sleep():serialize之前被调用,若对象比较大,想做一些删除在序列化,可以考虑使用该方法;
__wakeup():unserialize之前被调用,做些对象的初始化;
__isset():检测对象是否存在属性的时候被调用,如 isset($c->name);
__unset():unset一个对象属性时被调用,如:unset($c->name);
__set_state():调用var_export时被调用,用__set_state的返回值作为 var_export的返回值;,
__autoload():实例化一个对象时,如果对应的类不存在,在该方法被调用。

资源下载链接为: https://pan.quark.cn/s/d0b0340d5318 在模拟集成电路设计中,模拟CMOS集成电路是核心技术之一,其核心在于N沟道场效应晶体管(NFET)和P沟道场效应晶体管(PFET)的运用。本问题重点研究这两种器件在漏源电压(VDS)保持不变时,漏电流(ID)随栅源电压(VGS)变化的规律,主要以NFET为例进行分析。 当VDS固定为3 V时,NFET的漏电流与VGS的关系可通过以下步骤确定:首先,绘制NFET的电路图,此时器件处于关闭状态(off condition),漏电流ID近乎为零。其次,漏电流的通用表达式为ID = μnCox(W/L)(VGS - VT)^2(VDS - VGS),其中μn为电子迁移率,Cox为单位面积栅氧化层电容,VGS和VDS分别表示栅源电压和漏源电压,VT为阈值电压,λ为通道长度调制系数,W为宽度,L为长度(此处L = 0.5微米)。接着,计算Cox的表达式,它是氧化层介电常数εox与栅氧化层厚度tox的乘积。然后,将εox和tox的具体数值代入Cox公式,并从教科书表2.1中获取其他参数值,如μn、VT、λ等,以计算ID。之后,将所有数值代入ID公式,得到ID随VGS变化的函数关系,并针对VGS从0.8 V到3 V的不同取值,计算出对应的ID值,将这些数据整理成表格。最后,利用这些数据绘制VGS与ID之间的曲线,形成NFET的漏电流曲线。 对于PFET,其工作原理与NFET相似,但PFET仅在VGS > VTP时导通,VTP为P沟道的阈值电压。计算PFET的漏电流ID时,需考虑其特有的参数,如空穴迁移率(μp),并采用类似的步骤处理VGS和VDS的关系,最终绘制漏电流曲线。 通过这种分析,设计者能够理解并预测模拟CMOS集成电路中NFET和PFET在不同工作条件下的性能表现,这对于优化电路设计、降低功
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