Flash程序的测试方法

【工具箱】Flash基础及“SD NAND Flash”的测试例程 本篇除了对flash闪存进行简单介绍外,另给读者推荐一种我本人也在用的小容量闪存 阅读详情
 
随着RIA(Rich Internet Application)的流行,以往测试HTML类型的应用程序的方法对于测试Flash已经有点不够用了。
 
Kristopher Schultz在《Serious Techniques For Testing Your Sericous Flash Apps》一文中总结了测试Flash程序的方法,大概包括以下4个大的方面:
(1)在各种的连接速度下测试(Test Over Multiple Connection Speeds)
(2)在各种浏览器下测试(Test With Multiple Browsers)
(3)在低配置的机器上测试(Test on ‘Weak’ Machines)
(4)在各种版本的Flash Player上测试(Test Against Older Flash Player Versions)
单片机程序存储器擦写寿命机制与工程管理 非易失性存储器(NVM)是嵌入式系统实现代码持久化的核心载体,其擦写寿命由浮栅晶体管的隧穿损伤机制决定,直接影响数据保持时间与长期可靠性。EEPROM与Flash作为现代单片机主流程序存储方案,分别以字节级擦写和页/块级擦写为特征,在擦写次数(10⁴–10⁶次)、密度、成本及磨损均衡需求上形成显著分野。理解该物理限制对固件升级策略、OTA设计、Bootloader架构及硬件选型具有根本性指导价值,尤其在IoT设备、工业控制器等需现场更新且生命周期长达10年的场景中,必须统筹Flash寿命管理、外部存储卸载与 阅读详情

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