Android内存泄漏

本文深入探讨内存泄漏的原因及解决策略,包括单例、内部类、Handler、图片等引起的泄漏,以及强引用、软引用、弱引用和虚引用的概念。

内存泄漏

程序在向系统申请分配内存空间后(new),使用完毕之后没有释放,导致一直占据该内存单元。直到程序结束,我们和程序都无法再使用该内存单元,就是所谓的内存泄露。(其实就是内存空间使用完之后没有回收)内存泄漏是导致程序OOM的主要原因之一。Android系统为每个程序分配的内存有限,如果一个应用产生的内存泄漏较多,就会导致应用所需的内存超过系统分配的内存限额,就造成了内存溢出导致应用Crash。

内存溢出

系统会给每个App分配内存,当App占用的内存加上向系统申请的内存超出了Dalvik虚拟机的最大内存时就会抛出Out Of Memory异常。

强引用

强引用是使用最普遍的引用,垃圾回收器绝不会回收具有强引用的对象。当内存空间不足的时候,Java虚拟机宁愿抛出Out Of Memory异常使程序终止,也不会去回收具有强引用的对象。

软引用

具有软引用的对象,在内存空间足够时,垃圾回收器不会回收它,直到虚拟机报告内存不足的时候才会回收,只要该对象没被回收,程序就可以使用。软引用可以用来实现内存敏感的高速缓存。软引用可以和一个引用队列(ReferenceQueue)联合使用,如果具有软引用的对象被垃圾回收器回收,Java虚拟机就会把这个软引用加入到与之关联的引用队列中。

弱引用

垃圾回收器线程扫描它所管辖的区域时,发现只具有弱引用的对象,不管当前的内存空间是否足够,都会把该对象回收掉。垃圾回收器线程是一个优先级很低的线程,不一定会很快发现只具有弱引用的对象。弱引用可以和一个引用队列(ReferenceQueue)联合使用,如果弱引用所引用的对象被垃圾回收,Java虚拟机就会把这个弱引用加入到与之关联的引用队列中。

虚引用

虚引用可以理解为虚设的引用,与其他几种引用都不同,虚引用并不会决定对象的生命周期。如果一个对象仅持有虚引用,那么它就和没有任何引用一样,在任何时候都可能被垃圾回收器回收。 虚引用主要用来跟踪对象被垃圾回收器回收的活动。

几种内存泄漏

1.单例造成的内存泄漏

在这里插入图片描述
当调用getInstance的时候,传入的是外部Activity的Context,如果Activity退出的时候,单例没有被释放,因为单例持有对该Activity的引用,该Activity的内存不会被回收掉,就会造成内存泄漏。
解决方案:不管外部传入什么Context,使用Application的Context,因为Application的生命周期伴随着整个进程的周期。
在这里插入图片描述

2.非静态内部类、匿名内部类造成的内存泄漏

在这里插入图片描述
非静态内部类、匿名内部类会持有外部类的引用。如果有一个静态变量引用了非静态内部类、匿名内部类,导致非静态内部类、匿名内部类的生命周期比外部类(Activity)长,就会导致外部类在退出时无法被回收,引起内存泄漏。
解决方案:将非静态内部类、匿名内部类声明为静态类。Java中,非静态内部类、匿名内部类会隐式的持有其他外部类的引用,静态的内部类不会持有外部类的引用。静态内部类不吃有外部类的对象,导致不能在Handler中操作Activity的对象,所以需要在Handler中增加一个对Activity的弱引用。
在这里插入图片描述

3.Handler造成的内存泄漏

在Activity中使用Handler导致内存泄漏有两种情况。
第一种:2中所说的内部类导致的内存泄漏,改为静态内部类,添加对外部类的弱引用。
第二种:Message间接持有了外部Activity的对象,关闭Activity的时候,如果Message还存在消息队列,Activity就不会被回收。在Activity的onDestory方法中,把未执行完的Message删除,把回调移除。

4.图片导致的内存泄漏

Android默认为图片分配的内存为16M,在大图、多图的场景下,占用的内存超过这个值,就会造成内存泄漏。
解决方案:
①加载缩略图。图片的二次采样。参考 Android图片压缩(二次采样)
②图片的三级缓存。内存、磁盘、网络三级,内存缓存使用LruCache(默认缓存大小:手机内存的1/8),磁盘缓存使用DisLruCache。

5.流、数据库使用完未关闭、bitmap未释放、动画资源未取消

流、数据库、Bitmap使用完及时关闭掉,动画在onDestory中调用cancel取消。

代码下载地址: https://pan.quark.cn/s/bc087ffa872a "测控电路课后习题详解"文件.pdf是一份极具价值的学术资料,其中系统地阐述了测控电路的基础理论、系统构造、核心特性及其实际应用领域。 以下是对该文献的深入解读和系统梳理:1.1测控电路在测控系统中的核心功能测控电路在测控系统的整体架构中扮演着不可或缺的角色。 它承担着对传感器输出信号进行放大、滤除杂音、提取有效信息等关键任务,并且依据测量与控制的需求,执行必要的计算、处理与变换操作,最终输出能够驱动执行机构运作的指令信号。 测控电路作为测控系统中最具可塑性的部分,具备易于放大信号、转换模式、传输数据以及适应多样化应用场景的优势。 1.2决定测控电路精确度的关键要素影响测控电路精确度的核心要素包括:(1)噪声与干扰的存在;(2)失调现象与漂移效应,尤其是温度引起的漂移;(3)线性表现与保真度水平;(4)输入输出阻抗的特性影响。 在这些要素中,噪声干扰与失调漂移(含温度效应)是最为关键的因素,需要给予高度关注。 1.3测控电路的适应性表现测控电路在测控系统中展现出高度的适应性,具体表现在:* 具备选择特定信号、灵活实施各类转换以及进行信号处理与运算的能力* 实现模数转换与数模转换功能* 在直流与交流、电压与电流信号之间进行灵活转换* 在幅值、相位、频率与脉宽信号等不同参数间进行转换* 实现量程调整功能* 对信号实施多样化的处理与运算,如计算平均值、差值、峰值、绝对值,进行求导数、积分运算等,以及实现非线性环节的线性化处理、逻辑判断等操作1.4测量电路输入信号类型对电路结构设计的影响测量电路的输入信号类型对其电路结构设计产生显著影响。 依据传感器的类型差异,输入信号的形态也呈现多样性。 主要可分为...
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