如何让研发管理更透明、可控、高效?

本文探讨了研发管理的挑战,并重点介绍了电子实验记录本(ELN)如何解决这些问题,提高研发效率。ELN通过提供标准化、易访问的实验数据,改善了实验记录的效率和质量,有助于打造透明、可控的研发环境。文章还提到,ELN的合规性、行业适应性和基础功能是选择供应商的关键,并展望了ELN在研发管理未来中的重要作用。

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一直以来,研发管理都是最头疼的事,尤其是生物和化学相关的科学研发管理长期困扰着管理人员。研发管理不像生产制造,可以通过计件、定KPI等方式清晰呈现,因而常常给人很神秘的感觉。假如管理人员向研发人员了解研究的进展如何,得到的回复往往是“还在思考”。

研发真的那么神秘吗?

研发管理当真那么困难吗?

如何让研发管理化繁为简?

一套成熟的实验室研发管理系统可以完美的解决这些难题

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图1. Hari K. Machina总结的国际研发管理系统的架构图,按研发、分析、生产三阶段,分别对应电子实验记录本ELN、LIMS、电子批记录EBR,其中ELN是所有研发数据和工具连接的中心 (Journal of Laboratory Automation, 2012, 18(2),126)

研发管理系统(R&D management system, RDMS),也被称之为研发电子化管理系统、研发信息管理系统,就是通过完备的软件体系对研发全生命周期的数字化呈现。其设计初衷在于让整个研发过程透明化,主要包括 执行方面的实验设计、数据记录、数据库建立管理方面的物品采购、库存管理、项目管理 等模块。

而在其中,最核心的部分就是实验记录,实验记录的专业性、便利性直接决定了研发质量与速度。因此,想要上线研发管理系统,首先要实现实验记录的电子化。电子化的实验记录,也就是接下来要详细分析的电子实验记

内容概要:本文档介绍了基于3D FDTD(时域有限差分)方法在MATLAB平台上对微带线馈电的矩形天线进行仿真分析的技术方案,重点在于模拟超MATLAB基于3D FDTD的微带线馈矩形天线分析[用于模拟超宽带脉冲通过线馈矩形天线的传播,以计算微带结构的回波损耗参数]宽带脉冲信号通过天线结构的传播过程,并计算微带结构的回波损耗参数(S11),以评估天线的匹配性能和辐射特性。该方法通过建立三维电磁场模型,精确求解麦克斯韦方程组,适用于高频电磁仿真,能够有效分析天线在宽频带内的响应特性。文档还提及该资源属于一个涵盖多个科研方向的综合性MATLAB仿真资源包,涉及通信、信号处理、电力系统、机器学习等多个领域。; 适合人群:具备电磁场与微波技术基础知识,熟悉MATLAB编程及数值仿真的高校研究生、科研人员及通信工程领域技术人员。; 使用场景及目标:① 掌握3D FDTD方法在天线仿真中的具体实现流程;② 分析微带天线的回波损耗特性,优化天线设计参数以提升宽带匹配性能;③ 学习复杂电磁问题的数值建模与仿真技巧,拓展在射频与无线通信领域的研究能力。; 阅读建议:建议读者结合电磁理论基础,仔细理解FDTD算法的离散化过程和边界条件设置,运行并调试提供的MATLAB代码,通过调整天线几何尺寸和材料参数观察回波损耗曲线的变化,从而深入掌握仿真原理与工程应用方法。
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