基于TestDataAnalysis工具的N个模拟量测试参数分布对比分析

本文介绍如何使用funcparaana选项卡进行不同条件下的测试结果对比,适用于多个lot、wafer或同一芯片log的比较,是提升数据分析效率的关键工具。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

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选择funcpara ana选项卡
来对比的N个文件可以是N个lot或者N片wafer,或者同一个lot/片 芯片log的不同条件下测试结果对比。

待续

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