PINTECH品致示波器高压差分PINTECH 品致探头的了解及常见测量方法

1.概述

PINTECH 品致探头的种类很多,其中高压差分探头在开关电源应用中十分广泛,然而很多工程师对差分探头的理解不是很深刻,市场上差分探头生产厂家也不少,性能指标各不相同,甚至相差甚远,造成测出的波形也不尽相同,工程师无法看到正确波形。本文将主要讲述什么是差分信号,差分信号的测量,高压差分探头的主要指标,优缺点和相关使用技巧,以及高压差分探头在开关电源的典型应用。

2.什么是差分信号

在讲解差分PINTECH 品致探头之前,先来了解差分信号。差分信号是互相参考,而不是参考接地的信号。例如,图1开关电源中半桥上下开关管(Q1,Q2管)中电压信号;图2多相电源系统中电压信号,以上信号在本质上是“漂浮”在地之上。

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3.差分信号的测量方法

目前差分信号的常见测量方法如下:

1)使用两个PINTECH 品致探头测量,再利用示波器数学运算功能计算,如图3

使用PINTECH 品致两个PINTECH 品致探头进行两项单端测量,这是一种常用方法,也是进行差分测量最不希望的方法。测量到地的信号(单端)及使用示波器的数学运算函数(通道A信号减去通道B),就可测量差分信号。在信号时低频信号,信号幅度足够大,能够超过任何担心的噪声情况下,可以采取这种方法。两个单端测量组合在一起有多个潜在问题。其中一个问题是沿着每个探头直到每条示波器通道有两条单独的长信号通路。这两条通路之间的任何延时差都会导致两个信号发生时间偏移。在高速信号上,这个偏移会导致计算的差分信号中发生明显的幅度和定时误差。另一个问题是它们不能提供足够的共模噪声抑制。实际电路中,共模噪声源很多,比如说,附近时钟线在两条信号线上导致的噪声,荧光等外部来源发出的噪声。随着频率的提高,单端测量的CMMR(共模抑制比)的性能会迅速下降。如果保留共模干扰的话,这会导致信号的噪声比实际的噪声还要大的多。

2) 示波器浮地测量

目前常见的错误浮地测量方法就是示波器浮地测量方法,是通过切断标准三头AC插座地线的方法或使用一个交流隔离变压器,切断中线与地线的连接。将示波器从保护地线浮动起来,如图4,以减小地环路的影响。这种方法其实并不可行,因为在建筑物的布线中中线也许在某处已经与地线相连,是不安全的测量方法;此外,它违反了工业健康和安全规定,且获得的测量结果也差。而且示波器在地浮动时会出现一个大的寄生电容,浮动测量将受到振荡的破坏,测量的波形失真严重,后续会有实例演示。总而言之,示波器浮地测量容易损坏被测器件;损坏示波器;给人身带来潜在危害;测量误差大。

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3)差分测量

浮地测量的最佳解决办法就是使用高共模抑制比的PINTECH 品致差分探头,因为两个输入端都不存在接地的问题,两路输入信号的差分运算在PINTECH 品致探头前端放大器完成,传输到示波器通道的信号是已差分后的电压,示波器无需去掉三线插头的接地端即可实现安全的浮地测量,如图5。

4.差分PINTECH 品致探头

常见的PINTECH 品致差分PINTECH 品致探头中有一类是针对低压信号的,在高速的数字电路中这种差分信号比较常见,这一类差分探头的测量电压常见的幅值是±8V,带宽一般在1GHz以上;另一类是专门针对高压测量的,测量电压高达上KV,在开关电源测量中这种差分信号比较常见,这类差分探头叫高压差分探头,测量电压一般在KV级别,带宽在20MHz—100MHz范围内比较常见。

差分探头主要是针对浮地系统的测量。电源系统测试中经常要求测量三相供电中的火线与火线,或者火线与零(中)线的相对电压差,很多用户直接使用单端PINTECH 品致探头测量两点电压,导致探头烧毁的现象时有发生。这是因为:大多数示波器的“信号公共线”终端与保护性接地系统相连接,通常称之为“接地”。这样做的结果是:所有施加到示波器上,以及由示波器提供的信号都具有一个公共的连接点。该公用连接点通常是示波器机壳通过使用交流电源设备电源线中的第三根导线地线,将探头地线连到一个测试点上。如果这时使用单端探头测量,那么单端探头的地线与供电线直接相连,后果必然是短路。这种情况下,我们需要差分探头进行浮地测量。

差分PINTECH 品致探头3大重要指标:

带宽 (通用):所有PINTECH 品致PINTECH 品致探头都有带宽。探头的带宽是指探头响应导致输出幅度下降到70.7%

(-3 dB)的频率,如图6所示。在选择示波器和示波器PINTECH 品致探头时,要认识到带宽在许多方面影响着测量精度。在幅度测量中,随着正弦波频率接近带宽极限,正弦波的幅度会变得日益衰减。在带宽极限上,正弦波的幅度会作为实际幅度的70.7% 进行测量。因此,为实现最大的幅度测量精度,必需选择带宽比计划测量的最高频率波形高几倍的示波器和探头。这同样适用于测量波形上升时间和下降时间。波形转换沿(如脉冲和方形波边沿)是由高频成分组成的。带宽极限使这些高频成分发生衰减,导致显示的转换慢于实际转换速度。为精确地测量上升时间和下降时间,使用的测量系统必需使用拥有充足的带宽,可以保持构成波形上升时间和下降时间的高频率成份。最常见的情况下,使用测量系统的上升时间时,系统的上升时间一般应该比要测量的上升时间快4-5 倍。在开关电源领域,一般50MHz的带宽就基本够用了。

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CMRR (共模抑制比):共模抑制比(CMRR)是指差分PINTECH 品致探头在差分测量中抑制两个测试点共模信号信号的能力。这是差分探头的关键指标,其公式为:CMRR = |Ad/Ac|。其中:Ad = 差分信号的电压增益。Ac = 共模信号的电压增益。在理想情况下,Ad 应该很大,而Ac 则应该等于0,因此CMRR无穷大。在实践中,10,000:1 的CMRR 已经被看作非常好了。这意味着将抑制5 V 的共模输入信号,使其在输出上显示为0.5 毫伏。由于CMRR 随着频率提高而下降,因此指定CMRR 的频率与CMRR 值一样重要。CMRR对于测量全桥或者半桥电路的上管驱动波时,显得尤为重要,这也是高压差分探头测量这类信号时的难点。如图1中,上管GS驱动电压很小,但是共模电压很高,测量改点波形时,对差分探头的CMRR要求比较高,后续将会有实例演示分析。

畸变:畸变是输入信号预计响应或理想响应的任何幅度偏差。在实践中,在快速波形转换之间通常会立即发生畸变,其表现为所谓的“减幅振荡”。差分PINTECH 品致探头的两个差分输入线非常长,常见的有50cm左右,如果差分探头这个指标设计不好,那么测量的信号容易产生畸变。市场上不同厂家的差分探头测出的结果可能不同,有的相差甚远,这个指标就是其中原因之一。

当然差分PINTECH 品致探头还有输入阻抗,输入电容,精度,衰减系数等指标,市场上各个厂家差别不大,一般也不会出问题,所以这里就不一一介绍了。

<think> 我们已经在之前的讨论中详细探讨了如何精确测量MOSFET关断时的反激电压尖峰,特别是强调了使用差分探头的重要性。现在用户的问题转向了差分探头本身,希望了解其使用方法和原理。根据用户提供的引用资料,我们需要整合这些信息,并结合之前的专业背景知识,给出系统化的解释。 用户引用的资料包含几个关键点: 1. 差分探头都是有源的,内部包含差放大器来实现信号相减[^1] 2. 差分探头带宽型和压型两类[^1] 3. 差分探头能抑制共模噪声,提信噪比[^2] 4. 光隔离差分探头通过电-光转换实现完全电气隔离[^2] 5. 压差探头可将数千伏电压安全转换为示波器可接受的幅度[^3] 6. 泰克P5205探头专门设计用于测量浮动电路中的压快速信号[^4] 结合这些信息,我们需要构建一个完整的解释框架: - 首先说明差分探头的基本工作原理(差放大、共模抑制) - 然后类讨论不同类型(压/带宽)的特点 - 重点强调在电力电子测量中的安全操作要点 - 最后给出实际使用时的操作步骤示例 特别要注意用户之前关注的MOSFET电压尖峰测量场景,需要在这个背景下解释探头选择和使用技巧。比如压差探头的带宽限制(引用中提到的100MHz上限[^3])对测量ns级尖峰的影响,以及与传统单端探头的对比优势。 在数学表达方面,需要建立两个关键方程: 1. 差输出电压与输入的关系:$V_{out} = A_d (V_+ - V_-)$ 2. 共模抑制比的定义:$CMRR = 20\log_{10}(\frac{A_d}{A_{cm}})$ 最后生成的问题要延续测量技术的主题,同时结合探头原理和应用拓展。 </think> 根据测量需求及引用资料,以下是差分探头的核心原理与使用方法详解: ### 一、差分探头工作原理 #### 1. **信号处理机制** 差分探头通过内部差放大器测量两输入端电压差: $$V_{out} = A_d \times (V_+ - V_-)$$ 其中$A_d$为差增益(典型值0.1-0.01)。当$V_+$与$V_-$存在共模噪声$V_{cm}$时: $$V_{out} = A_d \times [(V_+ + V_{cm}) - (V_- + V_{cm})] = A_d \times (V_+ - V_-)$$ 实现完美共模噪声抑制[^2]。 #### 2. **电气隔离技术** - **压型**:采用衰减网络+差放大器,支持≤7000V$_{PP}$测量(如Pintech探头)[^3] - **光隔离型**:电信号→光信号→光纤传输→电信号转换,实现kV级隔离[^2] ```mermaid graph LR A[压端] --> B[电光转换器] B --> C[光纤] C --> D[光电转换器] D --> E[示波器] ``` ### 二、关键操作步骤(以MOSFET测量为例) #### 1. **探头选型准则** | 测量场景 | 探头类型 | 关键参数 | |----------------|-------------------|--------------------------| | 反激电压尖峰 | 压差探头 | 带宽≥100MHz, CMRR>60dB | | IGBT驱动电路 | 隔离差分探头 | 隔离电压≥母线电压2倍 | | 频开关噪声 | 带宽差分探头 | 带宽≥300MHz, 输入电容<1pF | #### 2. **连接规范** ```mermaid graph TB A[MOSFET漏极] -->|红色探针| B[探头+输入端] C[MOSFET源极] -->|黑色探针| D[探头-输入端] E[探头] -->|BNC接口| F[示波器50Ω输入] ``` - **必须操作**: 1. 探头接地环直接连接源极引脚(接地线≤1cm) 2. 示波器开启50Ω输入阻抗匹配 3. 探头衰减比设置与示波器通道同步(如100:1) #### 3. **安全防护措施** - **电压裕度**:被测电压峰值 ≤ 0.7 × 探头额定电压(例:测600V尖峰需选1000V探头)[^3] - **绝缘检测**:测量前用万用表验证探头输入-外壳绝缘电阻 > 1GΩ - **防电弧设计**:探头尖端加装绝缘套管(如图) ![探头绝缘处理](https://example.com/probe_insulation.png) ### 三、典型应用场景 1. **开关电源测量** 测量MOSFET的$V_{DS}$波形时,探头带宽$f_B$需满足: $$f_B \geq \frac{0.35}{t_r}$$ 其中$t_r$为电压上升时间(例:$t_r$=10ns需$f_B$≥35MHz) 2. **电机驱动器测试** 使用泰克P5205探头测量IGBT关断过程: - 探头连接到集电极-发射极 - 开启示波器测量模式 - 实测波形包含: - 母线电压($V_{bus}$) - 电压尖峰($\Delta V$) - 振荡衰减时间($\tau$) ### 四、校准与验证 1. **频响校准**: - 注入10MHz方波,调整探头补偿电容 - 验证上升时间$t_r$与带宽关系: $$t_r \approx \frac{0.35}{f_B}$$ 2. **共模抑制测试**: ```mermaid graph LR A[信号发生器] -->|同相信号| B[探头+输入端] A -->|同相信号| C[探头-输入端] D[示波器] --> E[观测输出幅值] ``` 输出幅度需<1%输入幅度(CMRR>40dB) --- ### 常见问题解决 | 现象 | 原因 | 解决方案 | |---------------------|-----------------------|------------------------| | 波形失真 | 输入电容过大 | 换用低电容探头(<1pF) | | 测量值偏小 | 衰减比设置错误 | 同步示波器通道设置 | | 频振荡 | 接地环路过大 | 改用弹簧接地附件 | > 正确使用差分探头可将压测量误差控制在±2%内,同时避免共模噪声导致的测量失效[^1][^3]。 --- ### 相关问题 1. **如何在IGBT半桥电路中准确测量上下管之间的电压差?** 2. **差分探头输入电容对MOSFET开关速度测量有何影响?** 3. **光隔离差分探头在新能源车800V系统测试中有哪些特殊优势?**
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