用GOF Debug反例反标来快速查明缺失的DFT约束

一、介绍

在现代IC设计中，可测性设计（DFT）流程的复杂性带来了重大的挑战。一个常见问题是在逻辑等效检查 （LEC） 和功能网表 ECO 期间遗漏了 DFT 约束。这种疏忽通常会导致 LEC 中出现虚假的非等价报告，并在 netlist ECO 中产生不必要的修改，从而可能损害 DFT 逻辑的完整性。鉴于 DFT 流程的复杂性以及 LEC 和网表 ECO 中采用的各种工具，例如 EC 的 Formality 和用于网表修改的 GOF ECO，确保在初始阶段正确施加 DFT 约束是一项挑战。GOF Debug 提供了反例反标功能，可以有效识别缺失的 DFT 约束，从而简化调试过程。

二、DFT约束缺失带来的问题

缺失DFT约束会导致：

• LEC中虚假的不等价报告：这些报告可能具有误导性，导致不必要的担忧和额外的验证工作。

• 网表ECO时冗余的修复：可能会应用不准确的修复，从而导致时间和资源的浪费。

• 破坏DFT逻辑：DFT 逻辑的完整性可能会受到影响，从而可能影响最终芯片的可测试性和功能。

三、GOF Debug和反例反标

GOF Debug 提供了一个强大的功能来解决这些问题：反例反标。此方法包括：

1、运行一个初步的LEC：使用 GOF Debug 运行 LEC 以识别 实现网表和参考网表之间的所有不等价的点。

2、把instances加载到电路图: 选择一对不等价的 flop 并将实现和参考instances加载到同一个电路图中。

GOF> sch tsp_reg -both        

LEC Debug Schematic的使用: 在电路图上执行调试。工具会将不等价信息直接反标到原理图上。如图 1 所示，CK 引脚具有不同的反标值。