DFT工程师专家讲述如何做好scan insertion

作为一名芯片设计DFT工程师专家，做好scan insertion（扫描插入）是确保芯片可测试性（DFT）的关键步骤之一。以下是一些关于如何做好scan insertion的详细建议：

一、明确Scan Insertion的目标与要求

 

提高测试覆盖率：通过扫描链，更容易地控制和观测电路内部状态，从而覆盖更多的故障模式。

简化测试生成：扫描链使得测试模式生成（ATPG）更加简单和高效。

降低测试成本：通过提高测试效率，减少测试时间和所需的测试设备资源。

 

二、掌握Scan Insertion的基本原理与流程

 

 

扫描触发器（Scan Flip-Flop）：

 

结构：扫描触发器是普通触发器的扩展，具有两个输入端（数据输入和扫描输入）和一个输出端（数据输出和扫描输出）。

工作模式：功能模式和扫描模式。在功能模式下，扫描触发器像普通触发器一样工作；在扫描模式下，扫描触发器通过扫描链传递测试数据。

 

 

 

扫描链：由多个扫描触发器串联而成的链路，用于在扫描模式下传递测试数据。

 

 

Scan Insertion流程：

 

扫描配置（Configure scan settings）：描述扫描链规划的初始设置，确定扫描设计的总体结构，包括扫描链数量、扫描单元类型、扫描单元在扫描链内的布置方式等。

扫描替换（Scan Replacement）：将可测试设计中的原始存储单元替换为扫描单元。

扫描连接（Scan Stitching）：将所有扫描单元连接在一起以形成扫描链，包括将每个扫描单元的扫描输出（SO）连接到下一个扫描单元的扫描输入（SI），以及将每个扫描链的首尾连接到适当的扫描链输入/输出端口。

扫描重新排序（Scan Reordering）：基于物理扫描