【鸿蒙南向开发】LiteOS-M小型系统内核——内存泄漏检测

内存泄漏检测

基础概念

内存泄漏检测机制作为内核的可选功能，用于辅助定位动态内存泄漏问题。开启该功能，动态内存机制会自动记录申请内存时的函数调用关系（下文简称LR）。如果出现泄漏，就可以利用这些记录的信息，找到内存申请的地方，方便进一步确认。

功能配置

1. LOSCFG_MEM_LEAKCHECK：开关宏，默认关闭；若打开这个功能，在target_config.h中将这个宏定义为1。
2. LOSCFG_MEM_RECORD_LR_CNT：记录的LR层数，默认3层；每层LR消耗sizeof(void *)字节数的内存。
3. LOSCFG_MEM_OMIT_LR_CNT：忽略的LR层数，默认4层，即从调用LOS_MemAlloc的函数开始记录，可根据实际情况调整。为啥需要这个配置？有3点原因如下：
   • LOS_MemAlloc接口内部也有函数调用；
   • 外部可能对LOS_MemAlloc接口有封装；
   • LOSCFG_MEM_RECORD_LR_CNT 配置的LR层数有限；

正确配置这个宏，将无效的LR层数忽略，就可以记录有效的LR层数，节省内存消耗。

开发指导

开发流程

该调测功能可以分析关键的代码逻辑中是否存在内存泄漏。开启这个功能，每次申请内存时，会记录LR信息。在需要检测的代码段前后，调用LOS_MemUsedNodeShow接口，每次都会打印