同步辐射散射技术，如GIWAXS和GISAXS，广泛应用于研究纳米级结构和表面特性。测试效果不佳可能源于背景信号干扰、制样不均匀、表面不平整、角度选择不当或线站问题。样品要求包括提供空白基底样、单晶硅基底、明确测试条件以及妥善封装样品，以确保测试准确性和样品保护。
掠入射X射线散射（GIXS）包括广角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步辐射光源的X射线散射技术，用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体的形状、以及晶格中的原子和分子距离，被广泛的应用于研究有机太阳能电池和钙钛矿太阳能电池的形貌特征，晶体结构等。
比如在OPV材料结构研究中，GIWAXS被用来探测分
最低0.47元/天 解锁文章
扫一扫
评论
被折叠的 条评论
为什么被折叠?
到【灌水乐园】发言
查看更多评论
添加红包
