Dallas器件DS18B20的CRC8(x8+x5+x4+1)校验码生成代码-优快云博客

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本文介绍了一种简单的DS18B20温度传感器中CRC8校验码的计算方法，并提供了C语言实现的示例代码。通过该方法可以有效地验证从DS18B20读取的数据的正确性。

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DS18B20光刻ROM以及暂存器的最后1字节是前面7个字节的CRC8校验码，在单片机中，用简单的一个函数,通过逐位运算的方式计算前面7字节的CRC8(X8+X5+X4+1)校验码

测试程序：

#include <stdio.h>


typedef unsigned char uint8_t;


uint8_t dat[] = { 0x28,0x4C,0x2D,0xB4,0x15,0x00,0x00 }; // 测试数据


// Dallas iButton test vector.
uint8_t  CheckCrc(uint8_t* dat,int len)
{
    uint8_t crc = 0, i, j;
    for (i = 0; i < len ; i++)
    {
        crc = crc ^ dat[i];
        for (j = 0; j < 8; j++)
        {
            if (crc & 0x01) crc = (crc >> 1) ^ 0x8C;
            else crc >>= 1;
        }
    }
    return crc;
} 
int main()
{
    printf("%x,", CheckCrc(dat,7)); // 输出校验码 16进制格式
    return 0;
}

上面的dat[]经过计算后得到的CRC8(x8+x5+x4+1)的校验码为0xE2.但是实际使用DS18B20中,我们无需校验码,校验码已存在内部光刻ROM中,所以只需要检验结果.那么如果将ROM的数据读取到dat,
令:uchar dat[]={0x28,0x4C,0x2D,0xB4,0x15,0x00,0x00,0xE2};// 自带CRC校验码(0xE2)的测试数据(仿DS18B20内部光刻ROM数据)
则:printf("%x,",CheckCrc(dat,8));// 此时输出的是校验结果,如果校验通过输出0,否则输出非0数.

生成校验码的程序同时也是验证校验码的程序.

与逐位计算crc相对应的还有查表计算crc，比逐位计算快，但是需要一个大数组存表，比较占用flash空间，此处就不写了。

因为DS18B20校验数据很少，因此使用不占用flash的逐位运算法计算crc比较合适。

PS：查表法和逐位运算法很好的体现了时间复杂度和空间复杂度的关系。

对CRC感兴趣可以看一下另一篇文章CRC校验码生成与数据校验源码程序(逐位运算法) (包括CRC-4,5,6,7,8,16,32)_crc-6-优快云博客