示波器，探头测试去除共模影响

在测试功率MOS管的GS端波形时，采用高压差分探头或普通无源探头，出来波形在开通米勒和关断米勒平台处可能会出现震荡，例如下面：

由于探头会承受比较大的dv/dt共模干扰，桥式电路中，上管的G端共模电压可达几百V，探头共模抑制比可能不够，为了排除是探头自身原因带来的问题，通常采用探头红黑短接，接入MOS或IGBT的G极，测量波形，理论中差模信号为零，输出波形应无干扰，若测出以下波形，则说明共模干扰影响还是大的，综合评估共模是否产生较大干扰。

上图共模峰峰值有2.64V，说明共模抑制指标还可以，实际驱动波形电压有15V，实测波形以看不到失真为宜。共模影响一般发生在开关处，波形中容易产生震荡。

通常，还有种实际可行方法，采用两只相同型号的差分探头，一只测量GS，一只红黑短接测量G端，实际波形为两只探头波形相减，即可得到正确差模波形。此处假设同种系列的同型号的探头共模抑制比一样，且所处的电磁环境一致。